ASTM F 1392-2002 用带汞探针的电容-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 08:56:19  浏览:8978   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminingNetCarrierDensityProfilesinSiliconWafersbyCapacitance-VoltageMeasurementsWithaMercuryProbe
【原文标准名称】:用带汞探针的电容-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1392-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;试验;材料;电子工程
【英文主题词】:materials;electronicengineering;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语